超级电容器具有非常高的电阻值，但仍然存在漏电流产生。这种漏电流可以视为将超级电容器维持在规定电压值所需的充电电流。然而，漏电流的测量结果会受到温度、器件充电电压及其老化条件的影响。在额定直流电压和室温下，大多数超级电容器数据表都会显示漏电流性能，例如AVX 1的SCC系列超级电容器。
为了测量漏电流，我们可以使用电阻和内阻阻抗较高的万用表进行测试。首先，我们将超级电容器的额定电压在常温（25°）下充电72小时。然后，断开开关SW（约10分钟），让超级电容器的温度和内部结构稳定。接着，合上开关，用一个内阻阻抗较高的万用表测量电阻（电阻值已知，便于计算）两端的电压。最后，我们可以通过公式漏电流DCL = V/R计算出漏电流的值。
需要注意的是，漏电流的值会随着温度、充电电压和器件的老化条件的变化而变化因。此，在测试过程中需要保持稳定的温度和充电电压，并使用已知的电阻值进行计算。此外，对于不同的超级电容器型号和规格，其漏电流性能也会有所不同，因此需要根据具体的器件规格和数据表进行测量和计算。